X射線發(fā)射譜儀是一種用于分析物質(zhì)元素組成和化學狀態(tài)的關(guān)鍵科學儀器，其核心原理是通過探測物質(zhì)受激發(fā)后發(fā)射的特征X射線，實現(xiàn)元素的定性、定量分析。

一、工作原理

當高能粒子（如電子束、X射線或γ射線）轟擊物質(zhì)時，原子內(nèi)層電子被擊出，形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時，會釋放特定能量的X射線光子，其能量僅與元素原子序數(shù)相關(guān)。通過測量這些特征X射線的能量和強度，可確定樣品中元素的種類及含量。

二、儀器組成

激發(fā)源

電子槍：發(fā)射高能電子束，轟擊樣品表面（如掃描電鏡中的電子槍）。

X射線管：產(chǎn)生一次X射線，激發(fā)樣品（如X射線熒光光譜儀中的激發(fā)源）。

同步輻射光源：提供高亮度、高分辨率的X射線，適用于前沿科學研究。

探測系統(tǒng)

半導(dǎo)體探測器：如Si(Li)探測器、Si-PIN探測器，將X射線能量轉(zhuǎn)化為電信號，實現(xiàn)高分辨率能譜分析。

閃爍體探測器：通過熒光物質(zhì)將X射線轉(zhuǎn)換為可見光，再經(jīng)光電倍增管放大信號。

能量色散型（EDS）：同時測量所有能量范圍的X射線，快速獲取多元素信息。

波長色散型（WDS）：通過晶體分光選擇特定波長，精度更高但速度較慢。

數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

多道分析器（MCA）：將電信號按能量分類，生成能譜圖。

軟件算法：對能譜進行峰識別、背景扣除、定量計算（如ZAF校正，考慮原子序數(shù)、吸收和熒光效應(yīng)）。

三、技術(shù)特點

高靈敏度與分辨率

現(xiàn)代半導(dǎo)體探測器（如Si-PIN）可實現(xiàn)低功耗、高分辨檢測。

多元素同時分析

能譜儀可一次性檢測從硼（B）到鈾（U）的所有元素，適用于復(fù)雜樣品分析。

非破壞性分析

無需化學處理樣品，適用于文物鑒定、環(huán)境監(jiān)測等場景。

微區(qū)分析能力

結(jié)合電子顯微鏡，可實現(xiàn)微米級區(qū)域的元素分布成像（如線掃描、面掃描）。

四、應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學

分析金屬、陶瓷、高分子材料的元素組成與分布，指導(dǎo)新材料研發(fā)。

地質(zhì)與礦產(chǎn)勘探

快速測定礦石中金屬元素含量，輔助資源評估與開采。

環(huán)境監(jiān)測

檢測大氣顆粒物、土壤中的重金屬污染（如鉛、汞、砷）。

工業(yè)無損檢測

用于金屬焊接、電子元器件的質(zhì)量控制，檢測內(nèi)部缺陷或成分偏差。

天文與空間探測

探測行星表面元素分布，研究行星演化。

生物醫(yī)學

分析生物樣品中的微量元素（如鈣、鐵、鋅），輔助疾病診斷。